HS2048高分辨微型光譜儀

HS2048高分辨微型光譜儀

HS2048 是一款結構小巧的微型光纖光譜儀，光譜范圍可靈活配置，核心優勢突出 —— 高分辨率達～0.07nm，雜散光低于 0.1%，波長溫漂僅～0.1pixel/℃。適配激光測量、等離子體發射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等多個工業現場場景，是高性價比的工業級光纖光譜儀。

核心產品規格

關鍵配置

l    低雜散光設計：采用優質光學元器件、特殊消光工藝及優化光路，雜散光低至 0.1% 以下，提升光譜純度與檢測精度；

l    超高分辨率：搭載傳統長焦 CT 光路，配合精密光學設計與高性能光柵，分辨率可達 0.07nm；

l    低溫漂穩定：波長溫漂～0.1pixel/℃，減少環境溫度對檢測結果的影響；

l    紫外響應優異：配備紫外高靈敏檢測器，輸出低噪聲、高信噪比的準確光譜信號，適配高精度分析；

l    光纖適配性強：可搭配多芯密排集束光纖，光纖插拔強度一致性≤7%；

l    低噪表現：CCD 量化背景噪聲≤30RMS（最短積分時間）；

l    接口完備：配置 USB2.0、RS232 通訊接口及 24PIN 交互接口，內置專有 DAC 和 ADC，可實現配套光源的使能、強度控制及功率反饋；

l    采集模式多樣：支持單次、連續、軟件觸發、同步外觸發、異步復位外觸發。

詳細參數表

產品配置表

定制說明

l                      光譜實際分辨率不高于標值的 120%；

l                      光譜范圍、分辨率等參數可根據客戶實際應用場景定制。

* 光譜實際分辨率不高于標值的 120%

* 光譜儀可根據客戶需求定制光譜范圍、分辨率等參數

主要應用領域

光譜儀測激光器線寬

激光器線寬是描述激光器性能的重要參數，是指激光器輸出的激光頻率的寬度。線寬越窄，激光的單色性越好，頻率穩定性越高。我們可以使用光譜儀來測量激光器的線寬，適用于激光器生產廠家、科研場所等。

激光波長測量圖譜

半導體刻蝕終點判斷

光譜儀在半導體刻蝕工藝中用于終點判斷，通過實時監測等離子體刻蝕過程中產生 的光譜信號變化，識別不同材料層的特征輻射峰。當光譜信號中的特征峰強度或位置發生預定變化時，系統判定刻蝕達到終點。這種方法具備高精度、實時性和非接觸性。廣泛應用于半導體制造中的多層結構刻蝕控制。

再結晶鎢在氣體為 He、0.1 Pa、700W、250V 條件下鎢粒子的發射光譜

膜厚測量

基于光的干涉原理，當光照射到薄膜上時，部分光會在膜的上下界面發生反射和透射，形成干涉條紋。通過測量薄膜在不同波長下的反射或透射光譜，分析干涉條紋的頻率和幅度變化，可以計算出薄膜的厚度。

膜厚測量

火焰光譜檢測

在紫外 - 可見 - 近紅外內實現光強探測，可獲取火焰在特定平面的相對光強和光譜分布。

火焰光譜檢測